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测厚仪的工作流程
点击次数:367 发布时间:2018-03-13 返回
   测厚仪的工作流程   
   测厚仪通过对薄膜材料的波浪边、塌边幅度进行测量,以帮助用户了解薄膜来料张力是否一致,满足涂布或使用要求。测厚仪采用激光测量位移差的方式,测量薄膜在一定张力下的表面平整度,并根据设定规则自动识别坏品,张力测量模块由一个激光位移传感器、驱动机构组成。
   测厚仪通过可调张力张紧薄膜被测物 后,驱动机构带动位移传感器横向来回扫描,得到膜片横向的高度差,根据转换关系转换成张力均匀性差异。测厚仪采用zui新的高性能、低功耗微处理器技术,基于超声波测量原理,可以测量金属及其它多种材料的厚度,并可以对材料的声速进行测量,可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度,也可以对各种板材和各种加工零件作测量。
   测厚仪可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域,对厚度的测量,是由探头产生超声波脉冲透过耦合剂到达被测体,一部分超声信号被物体底面反射,探头接收由被测体底面反射的回波,地计算超声波的往返时间,并按下式计算厚度值,再将计算结果显示出来。测厚仪适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度;可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用。
   测厚仪具有探头零点校准、两点校准功能,可对系统误差进行自动修正;已知厚度可以反测声速,以提高测量精度;具有耦合状态提示功能; 标准速率每秒钟4次,快速率:每秒20次,自动识别主机说明书上探头类型列表中的探头;测厚仪调整内部参数,并修正V声程错误;补偿探头温度和零位偏移;显示保持/空白模式,显示测量读数后,屏幕上保持读数或显示空白。
 
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