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FISCHER膜厚仪用实力体现出价值
点击次数:23 发布时间:2018-11-26 打印本页面 返回
   FISCHER膜厚仪用实力体现出价值
   FISCHER膜厚仪用来测量材料及物体厚度的仪表,在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
   FISCHER膜厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度,位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。FISCHER膜厚仪利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂层厚度,测试方法主要有:磁性测厚法,放射测厚法,电解测厚法,涡流测厚法,超声波测厚法。
   FISCHER膜厚仪测量注意事项:
  ⒈在进行测试的时恒要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
  ⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
  ⒊测量时要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
  ⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
  ⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁。?绻?峤?岣扇糯判圆夂穹。
  ⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的FISCHER膜厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
  ⒎在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。
  ⒏在进行测试时要注意FISCHER膜厚仪测头和被测试件的要直接接触,因此FISCHER膜厚仪在进行对侧头清除附着物质。
   在各个领域的广泛应用,根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求,应用新一代的高压电源和X光管,提高产品的可靠性;利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。FISCHER膜厚仪结构紧凑,坚固耐用,用于质量控制的可靠的台式射线荧光分析设备,提供简单,快速,无损的镀层厚度测量和材料分析。
 
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